Verdeckte Ermittlung auf dem Messestand

Publikations-Art: Zeitschriftenbeitrag
Autoren: Voeth, M./Herbst, U./Barisch, S.
Erscheinungsjahr: 2008
Veröffentlicht in: Absatzwirtschaft

Beteiligte Personen

Prof. Dr. Markus Voeth

Beteiligte Einrichtungen